- ‘국제전기기술위원회’공표, 전자산업계 경쟁력 강화 기대
국내 연구진이 개발한 나노측정기술이 국제전기기술위원회(이하 IEC)에 의해 미세전자기계시스템(MEMS) 분야 국제표준 기술로 채택됐다.
교육과학기술부는 한국기계연구원 나노융합.생산시스템연구본부 이학주(李學珠, 52) 박사팀이 개발해온 나노측정기술 '띠굽힘시험법'이 IEC에 의해 국제표준으로 선정됐으며, IEC는 이를 홈페이지를 통해 사전공표(~2.18)했다고 밝혔다.
사전공표(prerelease)란 IEC에서 표준화 기술을 선정한 후 인터넷 등을 통해 사전에 공표하는 절차를 말한다.
이 기술은 「21세기프론티어연구개발사업」의 한 축인 나노메카트로닉스개발사업단(단장 이상록)의 연구성과로 지금까지 마이크로 및 나노 구조물 상용화에 걸림돌이 돼온 신뢰성 문제 해결에 큰 도움을 줄 전망이다.
국제표준채택으로 우리나라는 13조5천억원(2010년)으로 추정되는 나노측정기술 산업분야에서 경쟁력을 확보할 수 있는 계기를 마련하게 됐다.
이 기술은 ‘띠굽힘시험법을 이용한 박막의 인장물성 측정’(IEC 62047-8 Ed. 1.0)이라는 IEC 국제표준명으로 책자로 발간될 예정이다.
2007년 열린 IEC MEMS 분야 국제 표준화회의에서 ‘띠굽힘시험법’을 신규 국제표준(안)으로 채택, 이 박사를 중심으로 세계 각국의 전문가들로 구성된 작업반(working group)을 조직해 기술적인 의견수렴을 계속해 왔다.
띠굽힘시험법이란 각종 마이크로 및 나노 구조물 등에 사용하는 박막의 인장물성을 간편하고 정확하게 측정할 수 있도록 함으로써 측정의 자동화와 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있는 기술이다.
연구책임자인 이 박사는 “이번 IEC에 의해 표준기술로 인정받음으로써 기술경쟁이 치열한 첨단 전자산업 분야에서 우리나라 기업들의 기술주도가 기대된다”고 밝혔다.
이학주 박사팀은 이외에도 미소 기둥 압축시험법, 박막의 열팽창계수 측정법 등 박막의 기계적 물성 측정법 분야에서도 국제표준을 주도하고 있다.
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