안리쓰 코퍼레이션(사장 HiRakazu Takahashi)이 100-Gbit/s 멀티 채널 광 모듈 검사를 위한 새로운 BERTWave MP2110A 시리즈를 출시했다고 22일 밝혔다.

새로 추가된 BERTWave MP2110A는 광 통신 시스템에서 사용되는 광 모듈*3 및 광 부품*4의 평가에 필요한 동시 BER 측정*1 및 아이 패턴 분석*2를 목표로 한 올인원 테스터이다(100GbE, InfiniBand EDR, 32G 파이버 채널 등).

올인원 MP2110A 설계는 장비 자본 비용을 절감할 뿐 아니라 고속 샘플링을 통해 측정 시간이 단축되고 고감도 오류 검출기 성능을 향상시켜 광 모듈 및 광 부품의 생산 비용을 줄여준다.

◇Development Background

데이터 트래픽 양은 폭발적으로 증가하고 있다. 데이터 센터 시스템의 처리 능력을 향상시킬 뿐만 아니라 또 다른 주요 문제는 증가하는 비용을 관리하는 방법이다. 한 가지 해결책은 데이터 센터에 사용되는 광 모듈의 비트율을 10G에서 25G로 높이면서 비용을 낮추는 것이다.

이러한 요구를 충족시키기 위해 Anritsu는 BERT가 내장된 올인원 BERTWave MP2110A를 최대 4채널, 샘플링 오실로스코프를 최대 2채널까지 출시하여 QSFP28과 같은 100GbE 표준에서 사용되는 다중 채널 광 모듈을 효율적으로 평가할 수 있게 하였다. InfiniBand EDR, 32G 파이버 채널 등과 같은 다른 표준을 지원한다.

◇Outline of BERTWave MP2110A

BERTWave MP2110A는 동시 BER 측정 및 아이 패턴 분석을 지원한다. BER을 측정하고 아이 패턴을 분석하기 위해 두 개의 별도 계측기가 필요한 이전 측정 환경과 달리 이러한 평가에는 하나의 MP2110A만 필요하므로 비용을 절감하고 장비 설치 공간을 절약할 수 있다.

또한 광 모듈 및 광 부품 생산 라인의 택트 타임을 단축하기 위해 MP2110A의 최대 샘플링 속도가 250 ksample/s로 향상되었으며 Eye Mask*5 테스트 등의 아이 패턴 분석 시간이 75% 단축되었다. MP2110A는 내장된 BERT(Bit Error Rate Tester)를 최대 28.2 Gbit/s로 4 채널로 확장하고 내장 샘플링 오실로스코프를 2채널로 확장하는 옵션을 지원한다.

결과적으로 MP2110A는 QSFP28과 같은 다중 채널 광 모듈과 동시 2채널 아이 패턴 분석을 동시에 TRx BER 측정할 수 있으며 이전 측정 시스템과 비교하여 측정 시간을 최대 65%까지 단축할 수 있다.

또한 최소 감도-11.5dBm(최대)에서 샘플링 오실로스코프 광인터페이스는 스위치 등으로 감쇄된 신호의 정확한 아이 패턴 분석을 지원한다. 600 fs rms(일반)의 우수한 PPG 지터 성능 25 mV(일반)의 ED 감도는 테스트 중인 장치(DUT)보다 우수한 성능으로 측정을 지원한다.

◇Key Features

광 모듈 및 광 부품의 올인원 동시 TRx 테스트
고속 샘플링 및 고감도 광 인터페이스를 갖춘 샘플링 오실로스코프
최대 4ch를 지원하는 내장 된 낮은 지터, 고감도 BERT
안정된 동작을위한 PC 내장

◇Target Markets and Applications

대상 시장 : 100Gbit / s 광 트랜시버 모듈 (CFP2, QSFP28, SFP28, 능동 광 케이블, 직접 연결 케이블 등) 및 관련 부품 및 케이블의 PHY 계층 성능 평가

대상 응용 분야 : 고속 전자 디바이스, 광 디바이스, 광 모듈, 광 디바이스 제조

◇Glossary

*1 BER Measurement
비트 오류의 측정: 수신된 디지털 데이터 비트 열에 포함된 오류 비트의 비율

*2 Eye Pattern Analysis
주기적인 신호 파형의 추가에 의한 아이 패턴 파형의 분석; 눈 모양에 표시된 신호 파형의 유사성으로 인해 Eye 패턴

*3 Optical Module
TOSA / ROSA, VCSEL 등과 같은 항목, SFP, QSFP 등과 같은 통합 TRx 송수신기로 통합된 광학 장치

*4 Optical Device
광 신호를 전기 신호로 또는 그 반대로 변환하기 위한 장치

*5 Eye Mask Test
한 유형의 아이 패턴 분석: 확인을 위한 테스트 아이 패턴은 각 표준에서 요구되는 마스크에 부합 함